Parce qu’elle permet la mesure de champ fort, continu (CW) ou transitoire avec une sonde ultra-compacte intégralement diélectrique et non perturbative, la solution KAPTEOS répond aux besoins de caractérisation de champ électrique au sein de jet-plasma, de plume-plasma y compris générés par des lasers ultra intenses (PW).

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​KAPTEOS a réalisé de nombreux systèmes et études pour le compte de ses clients : cartographie de champ électrique au sein de jets de plasma, mesure d'impulsions électromagnétiques monocoups intenses générées par interaction laser / plasma, mesure d’atténuation du champ électrique généré par jet plasma au sein de tissus biologiques.