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Test de conformité CEM

Parce qu’elle permet la mesure de champ fort et transitoire, avec une sonde ultra-compacte et non perturbative, la solution KAPTEOS répond aux besoins de mesure et de cartographie de champ électrique au sein de boîtiers électroniques, à la surface de cartes électroniques, au voisinage d’ouvertures sur des systèmes à blindage électromagnétique à des fins de test de conformité CEM.

KAPTEOS a réalisé de nombreux systèmes et études pour le compte de ses clients : caractérisation de champs de claquage au sein de matériaux diélectriques, mesure et cartographie du champ électrique sur une carte électronique en environnement « sale » (avec pollution et condensation), mesure et cartographie de champ électrique au sein de cavité RF, mesure du champ induit par un arc électrique.

Ils utilisent la technologie KAPTEOS pour leur R&D

Liste de publications

2020

" A Transfer Function Measurement Setup With an Electro-Optic Sensor for MR Safety Assessment in Cascaded Media "

IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility

from: University of Freiburg, Freiburg (DE)
IPI, Chur (CH)

2017

" Design of magnetic probes for near field measurements and the development of algorithms for the prediction of EMC "

Nimisha SIVARAMAN Ph.D. Thesis

from: IMEP-LAHC, Grenoble (FR)