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Test de conformité CEM

Parce qu’elle permet la mesure de champ fort et transitoire, avec une sonde ultra-compacte et non perturbative, la solution KAPTEOS répond aux besoins de mesure et de cartographie de champ électrique au sein de boîtiers électroniques, à la surface de cartes électroniques, au voisinage d’ouvertures sur des systèmes à blindage électromagnétique à des fins de test de conformité CEM.

KAPTEOS a réalisé de nombreux systèmes et études pour le compte de ses clients : caractérisation de champs de claquage au sein de matériaux diélectriques, mesure et cartographie du champ électrique sur une carte électronique en environnement « sale » (avec pollution et condensation), mesure et cartographie de champ électrique au sein de cavité RF, mesure du champ induit par un arc électrique.

Ils utilisent la technologie KAPTEOS

Liste de publications

2020

" A Transfer Function Measurement Setup With an Electro-Optic Sensor for MR Safety Assessment in Cascaded Media "

IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility

from: University of Freiburg, Freiburg (DE)
IPI, Chur (CH)

2017

" Design of magnetic probes for near field measurements and the development of algorithms for the prediction of EMC "

Nimisha SIVARAMAN Ph.D. Thesis

from: IMEP-LAHC, Grenoble (FR)