​Parce qu’elle permet la mesure instantanée (signal monocoup) de champ électrique crête au MV/m avec une résolution temporelle < 10 ps aussi bien dans l’air, sous vide ou haute pression que dans des liquides, la solution KAPTEOS répond aux besoins de mesure de micro-ondes de forte puissance (MFP) et de caractérisation d’impulsions électromagnétiques (IEM) dans les domaines de la défense et de la recherche scientifique sur les interactions intenses laser-plasma.

 

​

KAPTEOS a réalisé de nombreux systèmes et études pour le compte de ses clients : mesure de MFP dans le domaine de la défense, mesure de champ électrique généré par des armes électromagnétiques, caractérisation d’IEM généré par interaction intense plasma – laser PW en environnement sévère avec rayons X et γ.