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La CEM

Parce qu’elle permet la mesure de champ fort et transitoire, avec une sonde ultra-compacte et non perturbative, la solution KAPTEOS répond aux besoins de mesure et de cartographie de champ électrique au sein de boîtiers électroniques, à la surface de cartes électroniques, au voisinage d’ouvertures sur des systèmes à blindage électromagnétique.

KAPTEOS a réalisé de nombreux systèmes et études pour le compte de ses clients : caractérisation de champs de claquage au sein de matériaux diélectriques, mesure et cartographie du champ électrique sur une carte électronique en environnement « sale » (avec pollution et condensation), mesure et cartographie de champ électrique au sein de cavité RF, mesure du champ induit par un arc électrique.